設備 応用化学専攻

設備紹介(一例)

紫外可視近赤外分光光度計(SHIMADZU UV-3600)
  • 紫外可視近赤外分光光度計(SHIMADZU UV-3600)

試料に光を照射し、波長によって光がどの程度吸収されるかを測定することによって、新しく合成した化合物の電子状態や光物性を調べることができます。測定可能波長は185~3300nmで、溶液および固体状態での測定が可能です。クライオスタット(Oxford Instruments OptistatDN)を取り付けることにより、77~500K までの温度可変測定も可能です。これにより、溶液中での分子の会合挙動や固体中での相転移現象を観察することができます。

赤外分光装置(JASCO FT/IR-660M)
  • 赤外分光装置(JASCO FT/IR-660M)

試料に赤外光を照射することで分子振動を励起することができます。その波長依存性を調べることによって、分子の構造に関する情報が得られ、また電子状態を明らかにすることができます。この装置では 350-7800cm-1まで測定が可能で、ビームスプリッターをKBrからCaF2にかえることで3000-12000cm-1の測定範囲で使用できます。溶液、KBrペレットの両方で使用でき、さらに全反射スペクトル(ATR)用のアタッチメントを装着することで固体サンプルの表面付近のATR測定ができます。

GC-TOF質量分析計(JEOL JMS-T100GC)
  • GC-TOF質量分析計(JEOL JMS-T100GC)

新しく合成した化合物の構造決定に必要な情報である「分子量」を測定する装置です。ガスクロマトグラフ(GC)型の飛行時間(TOF)質量分析計で、分子量が数千程度の化合物の分子量測定を高感度、高分解能、高速で行うことが可能です。

グローブボックス
  • グローブボックス

化合物の中には空気中で酸素や水と反応してしまい、すぐに分解してしまうものがあります。また、半導体などの電子素子ではほんのわずかな欠陥がその特性に致命的な影響を与えます。そのような不安定な化合物の取扱いや精密な実験は、不活性ガス雰囲気下で行わなければなりません。このグローブボックス内は窒素ガスで満たされており、グム手袋を通して外から手を入れることで、外部から完全に遮断された不活性ガス雰囲気下で実験することができます。冷凍庫や天秤、顕微鏡なども入っており、様々な実験を行うことができます。

リサイクル分取高速液体クロマトグラフィー(日本分析工業 LC-909)
  • リサイクル分取高速液体クロマトグラフィー(日本分析工業 LC-909)

異なる分子量の化合物を分取する装置です。細孔が数多く存在する充てん剤を用いたカラムを用い、大きな溶質分子は細孔に入らないで早く流れていくことを利用して、分子の大きさによるふるい分けを行い、幾つかの分子の混合物から欲しい分子だけを単離することができます。リサイクル型で、何度も繰り返し展開することで分離しにくい混合物からも分けることができます。一度に最大で1.5gの混合物の分取も可能です。様々な種類の充てん材があり、展開溶媒を変えることや、キラルカラムでの光学分割も可能です。

マグネチックスターラー付き低温恒温槽(東京理化 PSL-1810)
  • マグネチックスターラー付き低温恒温槽(東京理化 PSL-1810)

有機合成反応のキーポイントのひとつが「反応温度」です。精密な有機反応では、温度を厳密に制御・管理することが必要とされます。この装置は冷媒にエタノールを用い、20℃から-80℃の範囲で1℃単位の温度コントロールが可能です。マグネチックスターラーが付いており、この恒温槽につけたまま反応をかけることができます。

自動X線回折装置 RINT2000/PCシリーズ
  • 自動X線回折装置 RINT2000/PCシリーズ

X線は電磁波の一種で、波長は紫外線よりもさらに短く100~0.1オングストローム(10~0.01ナノメートル)程度で、高いエネルギーを持ち、物質に照射されると一部は散乱や回折を生じ、一部は吸収されて蛍光X線を発生したりします。これらの現象を利用する分析法を総称してX線分析と呼び、新しい機能を持った光触媒などの無機・有機材料の結晶状態を精密に解析するのに威力を発揮しています。

ラマン分光光度計
  • ラマン分光光度計

物質にレーザ光を照射したときの反射光のうち、ラマン散乱光といわれる光を測定し解析することで、その物質の分子構造を特定する装置です。本装置は顕微式でマッピング機能を持つため、太陽電池に使われるシリコンや、リチウムイオン電池に使われるカーボン材料表面のミクロン領域での結晶構造などが精密に評価できます。

高機能比表面積/細孔分布測定装置
  • 高機能比表面積/細孔分布測定装置

窒素などのガスを、圧力を変えながら、固体表面に吸着させるときの挙動を測定し解析することで、材料の比表面積や細孔分布を求める装置です。高精度圧力制御系を搭載しており、サブナノ領域サイズの細孔の分布まで評価することができます。

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