大学院工学研究科博士前期課程1年の福岡靖晃さんが、11月17～18日に東京で開催された第30回RCJ（一般財団法人日本電子部品信頼性センター）信頼性シンポジウムの席上、優秀論文賞の表彰を受けました。

　RCJ信頼性シンポジウムは、電子デバイスに生じるEOS（過電圧・過電流ストレス）、ESD(静電気障害)、EMI(電磁干渉障害)についての会議です。電気電子材料研究室（清家善之教授）に所属する福岡さんは、昨年の同シンポジウム（第29回）で「フラットパネルディスプレー製造中の純水スプレー洗浄における静電気障害対策」と題して発表し、13件の中から優秀論文賞に選ばれました。

　発表内容は、スマートフォンやテレビなどに使われるフラットパネルディスプレーの製造工程で、高圧スプレー洗浄時に生じる静電気障害の原因追究とその対策についてです。この研究は、本学と旭サナック株式会社とのプロジェクト共同研究の成果の一部です。また、受賞論文の内容については、清家教授が米国ESD協会との連携プログラムとして開催された46th Annual EOS/ESD Symposium（9月17日・米国ラスベガス／オンライン）で招待講演しています。

　表彰を受けて、福岡さんは「シンポジウム運営委員長の木村忠正先生（電気通信大学名誉教授）がおっしゃられた通り、これまでの発表の積み重ねによる総合的な成果であり、清家教授、本研究に携わった先輩方や学部生、また共同研究をしている旭サナック株式会社の皆さまのおかげです。今回、皆さまの代表として賞をいただきました。まだ道半ばなので、今後も努力を続けていきます」と喜びを話しています。