量子ビームと顕微鏡解析、その要素技術普及と次世代技術革新
各種透過型電子顕微鏡技法を用いて先端材料のマイクロ/ナノ構造の評価をします。
量子ビーム（電子、イオン、レーザ）を用いたマイクロ・ナノ立体構造形成技術の開発と透過型電子顕微鏡を用いた微細構造解析手法の開発を主に行っています。そのためにICTを利用した新しい顕微鏡技法、試料作製法、画像データ処理方法，表現手法等に関わるアプリケーションの開発に関わっています。物質の起源、その特性の抽出から各種改質プロセスの創出・応用まで、科学啓蒙を兼ね広い範囲の普及を目指しています。
| 研究 リーダー |
工学部 電気学科 教授 岩田 博之 |
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| 研究 分野 |
透過電子顕微鏡学･結晶欠陥解析･ナノ構造解析 |
