設備 機械工学専攻

設備紹介(一例)

走査型電子顕微鏡(SEM)
  • 走査型電子顕微鏡(SEM)

試料に電子線を照射し表面形状観察と成分分析を行う装置です。 試料に電子線を照射すると試料表面から二次電子が発生し、その発生量を輝度の信号に変換すると像が得られます。
分解能:1.0nm、倍率×25~650,000

高温プラズマ装置
  • 高温プラズマ装置

作動ガス、空気、窒素、炭酸ガスを用いた、マッハ4の気流条件のアーク加熱実験が可能です。発光分光、LIFなどで気流成分、温度の計測が可能です。

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